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 OEM工厂一手库存 CL03C101JA3NNNC SAMSUNG电容  原装

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寿数影响要素剖析

除了非正常的失效，电解电容的寿数与温度有指数级的联系。因运用非固态电解液，电解电容的寿数还取决于电解液的蒸腾速度，由此导致的电气功能下降。这些参数包含电容的容值，漏电流和等效串联电阻（ESR）。

估计寿数的公式：

PLOSS = (IRMS)瞲 ESR　（1）

Th = Ta + PLOSS x Rth　 （2）

Lop = A x 2　 Hours　（3）

B = 参考温度值（典型值为85 ℃）

A = 参考温度下的电容寿数（依据电容器直径的不同而改变）

C = 导致电容寿数削减一半所需的温升度数

从上面的公式中，我们能够明显的看到，影响电解电容寿数的几个直接要素：纹波电流(IRMS)和等效串联电阻值（ESR）、环境温度（Ta）、从热门传递到周围环境的总的热阻（Rth）。电容内部温度l高的点，叫热门温度（Th）。热门温度值是影响电容工作寿数的主要要素。而下列要素又决议了热门温度值实践使用中的外界温度（环境温度Ta）, 从热门传递到周围环境的总的热阻（Rth）和由沟通电流引起的能量损耗（PLOSS）。电容的内部温升与能量损耗成线形联系。

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